SEM


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SEM - लघु संस्करण

स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप


SEM - लंबे संस्करण

एक स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप (SEM) इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप का एक प्रकार है कि यह एक रेखापुंज स्कैन पैटर्न में इलेक्ट्रॉनों की एक उच्च ऊर्जा बीम के साथ स्कैनिंग द्वारा एक नमूना छवियों. इलेक्ट्रॉनों परमाणुओं कि नमूना बनाने के संकेत है कि नमूना की सतह स्थलाकृति, संरचना, और विद्युत चालकता जैसे अन्य गुणों के बारे में जानकारी होती उत्पादन के साथ बातचीत.

एक SEM के द्वारा उत्पादित संकेतों के प्रकार माध्यमिक इलेक्ट्रॉनों, वापस बिखर इलेक्ट्रॉनों (बीएसई), एक्स - रे लक्षण, प्रकाश (cathodoluminescence), नमूना वर्तमान और प्रेषित इलेक्ट्रॉनों शामिल हैं. माध्यमिक इलेक्ट्रॉन डिटेक्टरों सभी एसईएम में आम हैं, लेकिन यह दुर्लभ है कि एक ही मशीन के सभी संभव संकेतों के लिए डिटेक्टरों होता है. नमूना की सतह पर या निकट परमाणुओं के साथ इलेक्ट्रॉन बीम की बातचीत से संकेत परिणाम. सबसे आम या मानक का पता लगाने के मोड में, माध्यमिक इलेक्ट्रॉन इमेजिंग या एसईआई, SEM एक नमूना की सतह के बहुत उच्च संकल्प छवियों का उत्पादन, विवरण आकार में 1 एनएम से कम खुलासा कर सकते हैं. बहुत ही संकीर्ण इलेक्ट्रॉन बीम के कारण, SEM micrographs एक विशेषता तीन आयामी एक नमूना की सतह की संरचना को समझने के लिए उपयोगी उपस्थिति उपज क्षेत्र की एक बड़ी गहराई है. यह सही करने के लिए दिखाया पराग माइक्रोग्राफ द्वारा उदाहरण है. Magnifications की एक विस्तृत श्रृंखला संभव है, एक शक्तिशाली हाथ लेंस की है कि बराबर के बारे में () के बारे में 10 बार से 500,000 से अधिक बार, के बारे में 250 बार सबसे अच्छा प्रकाश सूक्ष्मदर्शी सीमा बढ़ाई है.

पर वापस जाएँ बिखर इलेक्ट्रॉनों (बीएसई) बीम इलेक्ट्रॉनों कि लोचदार बिखरने द्वारा नमूना से परिलक्षित होते हैं. बीएसई अक्सर एक्स - रे की विशेषता से बना स्पेक्ट्रा के साथ विश्लेषणात्मक SEM में उपयोग किया जाता है. क्योंकि बीएसई संकेत की तीव्रता जोरदार नमूना परमाणु संख्या (जेड) से संबंधित है, बीएसई छवियों नमूने में विभिन्न तत्वों के वितरण के बारे में जानकारी प्रदान कर सकते हैं. एक ही कारण के लिए, बीएसई इमेजिंग छवि कोलाइडयन सोने इम्युनो - 5 या 10 एनएम व्यास, जो अन्यथा मुश्किल या असंभव के लिए जैविक नमूनों में माध्यमिक इलेक्ट्रॉन छवियों में पता लगाने होगा लेबल कर सकते. एक्स - रे विशेषता है जब इलेक्ट्रॉन बीम नमूना से एक भीतरी खोल इलेक्ट्रॉन को हटा उत्सर्जित कर रहे हैं, एक उच्च ऊर्जा इलेक्ट्रॉन खोल और रिलीज ऊर्जा भरने के कारण. ये लक्षण एक्स - रे करने के लिए संरचना की पहचान करने और नमूने में तत्वों की बहुतायत को मापने के लिए उपयोग किया जाता है.


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